Максимов, А.Д., Азаркевич, Е.И. , Бекетов, И.В. и Колеух, Д.С. 2023. Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010. Materials. Technologies. Design. 5, 2 (12) (ноя. 2023), 48–56. DOI:https://doi.org/10.54708/26587572_2023_521248.