Максимов, А. Д.; Азаркевич, Е. И. .; Бекетов, И. В. .; Колеух, Д. С. . Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010. MTD 2023, 5, 48-56.