МАКСИМОВ, А. Д.; АЗАРКЕВИЧ, Е. И. .; БЕКЕТОВ, И. В. .; КОЛЕУХ, Д. С. . Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010. Materials. Technologies. Design, [S. l.], v. 5, n. 2 (12), p. 48–56, 2023. DOI: 10.54708/26587572_2023_521248. Disponível em: http://194.190.227.39/index.php/mtd/article/view/3648. Acesso em: 15 ноя. 2024.