А. Д. Максимов, Е. И. . Азаркевич, И. В. . Бекетов, и Д. С. . Колеух, «Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010», MTD, т. 5, вып. 2 (12), сс. 48–56, ноя. 2023.