Максимов, Артем Дмитриевич, Евгений Иосифович Азаркевич, Игорь Валентинович Бекетов, и Диана Сергеевна Колеух. «Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010». Materials. Technologies. Design 5, no. 2 (12) (ноябрь 12, 2023): 48–56. просмотрено ноябрь 15, 2024. http://194.190.227.39/index.php/mtd/article/view/3648.