Максимов АД, Азаркевич ЕИ, Бекетов ИВ, Колеух ДС. Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010. MTD [Интернет]. 12 ноябрь 2023 г. [цитируется по 15 ноябрь 2024 г.];5(2 (12):48-56. доступно на: http://194.190.227.39/index.php/mtd/article/view/3648